蔡司三坐標測量儀吸盤配件概述：新一代SPECTRUM讓接觸式掃描測量技術成為蔡司全系列測量設備的標準配置，三坐標測量真正來到了“全掃描”的時代。SPECTRUM采用的掃描技術，可以獲得更全面的輪廓信息，相比單點觸發測量能夠獲得更高的可靠性和重復性，可以控制工件質量及提高生產成本。

蔡司三坐標測量儀吸盤配件，為滿足不同客戶的測量需求，新一代SPECTRUM專門為用戶量身定制，可以搭配三款不同的測頭：觸發式測頭、直接式掃描測頭及旋轉測頭。同時配備了蔡司*的RDS-CAA技術，僅需一次校準，即可使用全部5184個角度位置，大大減少了探針校準時間，滿足了市場上對于測量的更快生產力的需求。